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HAST试验箱

HAST试验箱

高加快寿命试验箱(HAST试验箱)是一种用于进行高加快应力测试的设备。它重要用于评估电子元器件、电路板和其他电子产品在恶劣环境前提下的靠得住性和耐久性。

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适应领域

合用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、衔接器、线路板、磁性资料、高分子资料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信任性试验等行业。


测试项目

HAST测试项目重要蕴含:电机能测试、靠得住性测试。其中,电机能测试蕴含电阻、电容、电感等参数的测试;靠得住性测试则蕴含在高温高湿前提下的耐压、绝缘电阻、表观等项主张测试。


测试领域

温度领域:105~142.9℃

湿度领域:75%~100%RH

压力领域:0.02~0.186Mpa


测试凭据

《半导体器件 机械和气象试验步骤 第4部门:强加快稳态湿热试验(HAST)》 GB/T 4937.4-2012

《高加快湿扰爪力试验》JESD22-A110D-2010

《非气密固态表表贴装器件 湿润/再流焊敏感度分级》IPC/JEDECJ-STD-020D.1-2008


试验照片


  • HAST试验箱1.jpg

    试验设备

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