HAST试验，即高加快温湿杜爪力测试，也被称为高压蒸煮试验。它是一种以温湿度为环境参数的高加快电子元器件靠得住性测试步骤。HAST试验旨在通过提高测试室中的水蒸气压力至远高于测试样品内部水蒸气分压的高水平，以评估测试样品的耐湿性。

关于HAST测试尺度，与高温/高湿测试（85°C/85百分 之 RH）相比，HAST试验由于湿气驱动的侵蚀和更多的绝缘劣化，更易导致组件接触。因而，HAST试验重要合用于塑料密封组件。下表列出了较常见的HAST有关测试尺度。值妥贴心的是，在电子元件通电的情况下进行的测试通常属于不鼓和类型。

HAST试验流程

HAST试验的节造方式重要涵盖干湿球温度节造、不鼓和节造以及润湿鼓和节造三种类型。干湿球温度节造通过专用的干湿球温度传感器，实现对测试室内温度和湿度的直接监测与调控。而润湿鼓和节造和不鼓和节造则专门用于在100百分 之相对湿度前提下进行测试。

分歧节造方式对测试样品上冷凝机造的影响各有特点。当选取润湿鼓和节造进行100百分 之相对湿度前提下的测试时，测试箱加热器将关关，仅通过节造加湿加热器来维持环境状态。此时的环境前提类似于在无空气的环境中煮沸的水。

相对地，若选取不鼓和节造，打开的测试室加热器会导致环境产生轻微的不鼓和偏差。

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